Imagerie thermique ultra-rapide, haute résolution spatiale, et analyse transitoire à l’échelle sub-nanoseconde.
EXOCIS vous propose, en partenariat avec Microsanj (Californie), une gamme de solutions clefs en main pour la mesure thermique active par thermo-réflectance.
Cette technologie permet de capturer des variations thermiques à l’échelle du nanomètre et de la nanoseconde, en laboratoire ou salle blanche, avec une précision de mesure inégalée.
Qu’est-ce que la thermo-réflectance ?
La thermo-réflectance mesure la température par variation du coefficient de réflexion d’une onde optique sur la surface du circuit testé.
Plus la température change, plus l’onde réfléchie varie : cette signature optique permet une mesure thermique sans contact, ultra-rapide, et extrêmement localisée.
- Résolution temporelle jusqu’à 800 picosecondes
- Résolution spatiale jusqu’à 250 nanomètres
- Précision de température : < 0,1 °C
- Calibration pixel par pixel
- Imagerie thermique 2D & 3D
- Intégration possible sur station sous pointes existante
SanjSCOPE™ EZ500 – Plateforme modulaire pour caractérisation thermique
Le EZ500 est une solution plus accessible, adaptée aux environnements de développement et de validation thermique. Il permet l’utilisation combinée de plusieurs capteurs (TR et IR), avec une résolution temporelle de quelques microsecondes.
- Visualisation thermique en 2D et 3D
- Résolution spatiale : submicronique (<1 µm)
- Résolution temporelle : 5 à 50 µs
- Jusqu’à 3 capteurs actifs simultanément
- Refroidissement actif jusqu’à 50 W
- Calibration pixel par pixel
SanjSCOPE™ NT220 – Analyse thermique dynamique haute performance
Le NT220 est le système haut de gamme de Microsanj. Il permet une analyse thermique transitoire à l’échelle nanoseconde, avec une précision spatiale de 250 nm et une sensibilité thermique de 10 mK.
Conçu pour les laboratoires de R&D, la caractérisation avancée et l’analyse de fiabilité, il s’intègre parfaitement aux workflows semi-conducteurs, RF et optoélectroniques.
- Résolution spatiale : 250 nm
- Résolution temporelle : nanoseconde, extensible à 500 ps
- Sensibilité thermique : 10 mK
- Analyse en régime transitoire et stationnaire
- Compatible pump-probe, tests multicouches
- Logiciel d’analyse rapide et intuitif
Applications
Les systèmes Microsanj sont conçus pour les environnements de test les plus exigeants :
- Détection de hot spots submicroniques sur circuits intégrés ou modules RF
- Analyse thermique dynamique pour composants RF, optoélectroniques ou de puissance
- Validation de dissipateurs, boîtiers ou interfaces thermiques
- Corrélation simulation / mesure thermique en phase de conception
- Fiabilité, analyse de panne, test de cycle thermique
